Zuverlässige Bauelemente für elektronische Systeme: Fehlerphysik, Ausfallmechanismen, Prüffeldpraxis, Qualitätsüberwachung (1. Aufl. 2020)
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- Synopsis
- Speicher, Mikroprozessoren, Opto-, MEMS- und NEMS-Bauteile zusammen mit den passiven Komponenten sind das Hauptthema des Buches. Praktische Methoden zur Untersuchung der Zuverlässigkeit sind ergänzt durch umfangreiche Tabellen und veranschaulicht durch zahlreiche Diagramme. Damit erhält der Leser präzise, praxisnah und umfassend sämtliche Zuverlässigkeitsaspekte einfacher und komplexer elektronischer Bauelemente - von der Fehlerphysik über die Prüffeldpraxis und Ausfallmechanismen bis zur Qualitätsüberwachung.
- Copyright:
- 2020
Book Details
- Book Quality:
- Publisher Quality
- ISBN-13:
- 9783658221782
- Related ISBNs:
- 9783658221775
- Publisher:
- Springer Fachmedien Wiesbaden
- Date of Addition:
- 01/04/20
- Copyrighted By:
- Springer
- Adult content:
- No
- Language:
- German
- Has Image Descriptions:
- No
- Categories:
- Nonfiction, Technology
- Submitted By:
- Bookshare Staff
- Usage Restrictions:
- This is a copyrighted book.